X熒光光譜儀與火花直讀光譜儀的區(qū)別和聯(lián)系

分析原理：

X熒光光譜分析儀是利用高能量的X光，打擊試樣，使試樣中被測(cè)元素的內(nèi)層電子被激發(fā)打走，次內(nèi)層電子回落到內(nèi)層，同時(shí)產(chǎn)生一個(gè)光子，這個(gè)光子具有特定的頻率，與其他原子同樣條件下產(chǎn)生的光子不同，儀器再經(jīng)過光柵色散，把這一種元素產(chǎn)生的單色光分離出來，再利用一個(gè)光電管，把這一種光信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)，這個(gè)電信號(hào)與試樣中被測(cè)物質(zhì)的含量成一定的比例關(guān)系。但是這樣并不能獲得試樣中被測(cè)物質(zhì)的含量，還必須與標(biāo)準(zhǔn)試樣在同樣條件下獲得的電信號(hào)進(jìn)行比較才能獲得試樣中被測(cè)物質(zhì)的百分含量。

熒光光譜儀原理，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí)，驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個(gè)空穴，使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原子壽命約為（10）-12-（10）-14s，然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)，這個(gè)過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí)，所釋放的能量隨及在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，此稱為俄歇效應(yīng)，亦稱次級(jí)光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)，所逐出的次級(jí)光電子稱為俄歇電子。

X熒光光譜儀也是一種發(fā)射光譜法，但它的激發(fā)過程是利用光來激發(fā)，而輻射的波長在比紫外更短的X射線區(qū)。

熒光光譜儀產(chǎn)品特點(diǎn)

儀器是由計(jì)算機(jī)控制，自動(dòng)化水平高，分析速度快，它不需要像火花直讀光譜那樣需要試樣具有導(dǎo)電性，所以可以完成非金屬試樣的分析，它可以同時(shí)完成多個(gè)被測(cè)元素或被測(cè)組分的百分含量，如Mg、Al、Zn、Mn、Si、Cu、Ni、Fe、Be、Sr、MgO、Al2O3、SiO2、CaO及稀土等可以同時(shí)完成。多數(shù)用戶的X熒光光譜分析儀只是專門用來分析精礦粉、石灰、青石、白云石、爐渣、溶劑等不導(dǎo)電的試樣。同時(shí)它也可以進(jìn)行金屬材料等導(dǎo)電試樣的分析。其他特點(diǎn)與直讀光譜相同。

X射線熒光直讀光譜儀可以分析粉末樣品、熔融樣品、液體樣品、固體樣品等，非金屬或金屬都可以分析。

火花直讀光譜儀只能分析固體樣品，而且要求樣品是導(dǎo)電介質(zhì)，簡單的說就是分析金屬固體樣品中的金屬或非金屬元素。

后說說它們的精度（分析正確度）

除了ICP以外，直讀光譜和X熒光都依靠標(biāo)準(zhǔn)樣品的質(zhì)量。如果，不能準(zhǔn)備*的標(biāo)準(zhǔn)樣品，不可能得到標(biāo)準(zhǔn)偏差。標(biāo)準(zhǔn)樣品是當(dāng)然一定要沒有偏析，正確的標(biāo)準(zhǔn)值。